目 录
一 概述··························································································…… (1)
二 技术要求·......................................................................................... (1)
三 检定条件·......................................................................................... (2)
四 检定项目和检定方法·.......................................................................... (3)
五 检定结果处理和检定周期·.................................................................... (5)
附录1 术语 ····················································································…… (6)
附录2 几何因子 ··············································································…… (7)
低本底a,p测量仪检定规程
本规程适用于新制造、使用中和修理后的低本底。、F3和。/R活度或表面粒子数测量
仪的检定 。
。粒子的能量大于3.9 MeV, R粒子的最大能量不小于0.15 MeV.
本规程不适用于测量。或R能谱和表面污染检测类型仪器的检定。
概 述
本规程涉及的受检装置主要由探测器部件、测量部件和电源部件等组成。这些部件
可以组装成一个整体，也可以分为儿个部分。
被测样品的。或R粒子进人探测器灵敏体后，产生电脉冲，该脉冲经整型、放大
甄别后，输人计数电路，根据仪器输出的脉冲数，可求出样品中放射性核素的活度。
二 技 术 要 求
1 仪器的分级
本底计数率低、探测效率高和稳定度好为低本底。、R测量仪的3个主要指标。本
规程根据这3个指标分为工、II,m级，见表 to
