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磁阻法测厚仪 |
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阻法测厚仪是一种用电池供电的便携式测量仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度。例如：铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用，使本仪器具有操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。仪器具有数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、最大值及最小值。
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按键说明 |
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1、“开/关”：仪器的开关键。
2、“统计RES”：数理统计键，对测量结果进行数理统计，并顺序显示下述数据，即测量的次数（N）、平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）。
3、“清除DEL”：从统计中消除当前测量值的键。
4、“校正CAL”：用于校正仪器的键。
5、“︿”：处在校正方式时，递增显示数值的键；在正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
6、“﹀”：处在校正方式时，递减显示数值的键；在正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
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使用细节 |
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1. 在仪器开机时，使探头远离被测件和其它铁磁性物体（10cm以上），直到仪器显示 “0μm”为止。
2. 每次测试后，尽量上提探头，使其远离被测件，这样会使仪器处于良好的环境适应状态。
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单点校正法 |
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有时候，受条件限制，譬如被测体是个凹面，无法使用很难弯曲的厚试片进行校正；或者用户接触到的涂层厚度局限在一个相对较小的范围内。此时，只能或只需要用一个校正点。这个校正点可以是裸基体（零点），也可以是某个任意涂层厚度的样品。如果用户的接触到的被测件涂层厚度在某个较小范围内，如100μm左右，那么这个校正点选100μm是最合适的。校正点定好以后就可以开始校正了，只有如下一个步骤：
在仪器开机后的状态下，按一下“校正CAL”键，用 “︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值，使其为“0”或与样品的厚度值一致。然后，将探头直接放在裸基体上进行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复测几次，待仪器显示的测试值稳定后，按两下“校正CAL”键（后一次按键使仪器退出校正过程），单点校正便完成了。
同样，如果以后还要做同样的单点校正，借助仪器已经记住的校正点厚度值，能进一步让用户省去上面步骤中调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。 相对于上面的几种方法，本校正法的操作最简单。但代价是仪器的测试精度在远离校正点处可能会有所降低。用户可以不妨试用一下本校正法，以便判断它能否满足实际的测试要求。
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技术参数 |
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有时候，受条件限制，譬如被测体是个凹面，无法使用很难弯曲的厚试片进行校正；或者用户接触到的涂层厚度局限在一个相对较小的范围内。此时，只能或只需要用一个校正点。这个校正点可以是裸基体（零点），也可以是某个任意涂层厚度的样品。如果用户的接触到的被测件涂层厚度在某个较小范围内，如100μm左右，那么这个校正点选100μm是最合适的。校正点定好以后就可以开始校正了，只有如下一个步骤：
在仪器开机后的状态下，按一下“校正CAL”键，用 “︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值，使其为“0”或与样品的厚度值一致。然后，将探头直接放在裸基体上进行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复测几次，待仪器显示的测试值稳定后，按两下“校正CAL”键（后一次按键使仪器退出校正过程），单点校正便完成了。
同样，如果以后还要做同样的单点校正，借助仪器已经记住的校正点厚度值，能进一步让用户省去上面步骤中调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。 相对于上面的几种方法，本校正法的操作最简单。但代价是仪器的测试精度在远离校正点处可能会有所降低。用户可以不妨试用一下本校正法，以便判断它能否满足实际的测试要求。
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